6月21日に開催される「Dassault Systemes User Conference 2019」にライトウェルは

協賛のパートナーとして出展致します。是非ご参加下さい。

<展示内容>

3Dデータの有効活用　～検査工程でも3Dデータ使ってみませんか？～

当社がご紹介するのは、「CATIA Composerを活用した表面検査システム」です。

設計段階で作成した3Dデータを検査工程でも活用出来るシステムであり、検査業務の効率化・品質向上に役立てることができます。

また、チェック結果の集計のみならず、3Dデータを活用した不具合発生状況の可視化機能も備えており設計・製造等の他部門へのフィードバックもスムーズになります。

それらの経験から、「3Dデータの有効活用」をテーマに、CATIA Composerを活用した表面検査システムをご紹介いたします。

2019年6月21日（金）10:00～17:30　

　　(受付開始9:00～、ネットワーキング17:40～)

東京コンファレンスセンター・品川

　　〒108-075　東京都港区港南 1-9-36 アレア品川

　　TEL: 03-6717-7000 

【アクセス】　地図

• 　　JR品川駅港南口(東口)より徒歩2分。
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参加対象

・ダッソー・システムズ製品ユーザー、および購入検討者
・業務推進者、実務者

ダッソー・システムズ株式会社

無料（事前にご登録頂く必要がございます。）

終了しました。

 株式会社ライトウェル PLMソリューション部　石井

　　TEL：03-5828-9409　　MAIL：Helpplm@lightwell.co.jp